HI1710A微波漏能仪说明书

开机HI-1710A

* 关闭电源，将 HI-2623 微波炉探头连接到 HI-1710A 前面的探头连接器。 插入连

接器，使定位螺钉朝上。

* 将 HI-1710A 连接到交流电源。

* 打开HI-1710A正面的电源开关。 屏幕将显示固件版本和其他 ETS-Lindgren 信息。

在此期间执行一系列自检； 自检完成后，探头准备归零。

* 将探头置于零场环境中，然后按HI-1710A正面的ZERO。归零完成后，HI-1710A 准

备就绪。

使用HI-1710A

检查探头间隔锥是否损坏、变色或污染。锥体磨损或损坏或可能嵌入锥体中的金属

颗粒污染可能会影响精度。如有必要，更换锥体。有关部件号，请参阅第 6 页的更

换部件和可选部件。

让 HI-1710A 预热至少 10 分钟。

* 选择测试需要的操作设置。对于正常测试或起点，请使用默认条件。要选择设置，请

参阅第 15 页的菜单选项、设置和命令集。

* 开始测试前将探头调零。当烤箱在合适的负载下运行时，在烤箱表面上移动探头，保

持探头轴线（手柄）垂直于潜在泄漏区域。

* 握住探头的红色手柄以避免潜在干扰。使身体的其他部位和探头线远离探头头部附近。

模拟条形图显示可用于确定最高泄漏区域。在正常模式（非峰值保持）下，条形图显示

将跟踪显示的数字值并响应过滤后的 RF 信号。当仪器在峰值保持模式下操作时，条形图

显示不会被过滤并且对 RF 强度的变化反应非常快。扫描时可以使用峰值保持模式来捕获

最高泄漏区域，而条形图将连续显示泄漏的瞬时变化。

将过滤器选择更改为 FAST 将减少系统的响应时间。这将更有效地显示由于模式搅拌

器或其他调制设备导致的 RF 水平快速变化的影响。在 SLOW 和 FAST 滤波器位置，响

应时间满足 RF 测量仪器响应时间的 CDRH 要求，而 SLOW 响应特性可平滑RF 变化。

测试完成并记录 RF 读数后，在下一次测试之前再次将 HI-1710A 调零。零点可能会

在很长一段时间内逐渐漂移。开始测试前重新归零。